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Ceyear/思儀
經(jīng)銷商
深圳市
更新時間：2024-11-25 13:28:57瀏覽次數(shù)：441次
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
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思儀6433P光波元件分析儀產(chǎn)品簡介
6433P光波元件分析儀是面向高速電光器件、光電器件及光光器件調(diào)制特性測試的儀器，頻率范圍覆蓋10MHz~110GHz，集成電電測試、電光測試、光電測試及光光測試4種測試模式，具有對數(shù)/線性幅度、相位、群時延、Smith圓圖、極坐標(biāo)等多種顯示格式，能夠精確測量光電網(wǎng)絡(luò)的幅/相頻特性，主要應(yīng)用于高速電光器件（電光強度調(diào)制器、直接調(diào)制激光器、光發(fā)射組件）、光電器件（探測器、光發(fā)射組件、探測器芯片）及光光器件（光衰減器、EDFA）的帶寬、幅/相頻、群時延等頻響參數(shù)的測試。
典型應(yīng)用
單端光器件測試
針對電光調(diào)制器、直接調(diào)制激光器等電光器件的S11參數(shù)和S21參數(shù)測試，利用多窗口顯示可快速獲取測試對象的各頻點反射和傳輸特性；針對光電探測器、ROSA、TIA集成組件等光電器件的S22參數(shù)和S21參數(shù)測試，利用光標(biāo)功能可快速分析3dB帶寬，評估器件的頻響特性；針對光纖濾波器等光光器件的S21參數(shù)測試，可快速實現(xiàn)損耗、平坦度等指標(biāo)的測量。
利用儀器提供的多種顯示模式,可實現(xiàn)相位、群時延等信息的顯示，可快速實現(xiàn)相頻特性等指標(biāo)的測量。
平衡光器件測試
光波元件分析儀通過配置四端口機型，實現(xiàn)平衡光發(fā)射或光接收器件對差分增益和共模抑制參數(shù)的測試需求，更加貼合現(xiàn)有和未來高速光纖通信領(lǐng)域中多端口參數(shù)的測量場合。
光芯片在片測試
6433P光波元件分析儀搭配探針臺及高頻探針，可實現(xiàn)電光/光電芯片的頻響參數(shù)的測試。
自動化測試
6433P光波元件分析儀提供標(biāo)準(zhǔn)的SCPI程控指令集，方便用戶進行遠程控制。通過網(wǎng)口，只需完成設(shè)備的互聯(lián)，發(fā)送命令即可實現(xiàn)一體化的自動測試方案，方便用戶將光波元件分析儀與溫控、數(shù)字源表及被測件等共同搭建光芯片測試系統(tǒng)。
思儀6433P光波元件分析儀技術(shù)指標(biāo)
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